1-技术原理

利用初级X射线光子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)。不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量可以对元素进行定性的分析；同时样品受激发以后发射某一元素的特征X射线强度跟元素在样品中的含量有关，因此可以对元素进行定量分析。

2-光学结构

分析仪由如下光学技术平台构成，该技术平台由X射线管、真空仓、探测器等光学组件构成。X射线管发出的光直接照射在待测样品，激发待测物质中的原子，使之产生荧光，被探测器接收。

通过对荧光谱线进行分析，可以分析出待测样品中的元素成分和含量。

3-元素光谱

金属元素的光谱

不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

4-岩屑成分

可一次性实现多达十几种元素的快速、无损、准确分析。

自动稳谱，消除谱峰水可载舟漂移影响，精确度达98%以上。

集成大量数据库，并实时更新，目前可以识别岩屑成分多达上百种。

GW-4040型XRF岩屑元素分析仪，是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性，以及传统设备的不便捷性，更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备，目前在油田得到广大客户的使用。

产品主要用于以下场合：

● 油气钻井岩屑录井；

● 物探岩石检测等。